一臺(tái)典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。

然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍為9號(hào)元素 （F）到92號(hào)元素（U）。

1.X射線用于元素分析，是一種新的分析技術(shù)，但在經(jīng)過(guò)二十多年的探索以后，現(xiàn)在已成熟，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域。

2.每個(gè)元素的特征X射線的強(qiáng)度除與激發(fā)源的能量和強(qiáng)度有關(guān)外，還與這種元素在樣品中的含量有關(guān)。

3.根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

X射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)：

1.對(duì)于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè)，而不毀壞樣品。

2.測(cè)試速率高，可以在較少時(shí)間內(nèi)進(jìn)行大量樣品測(cè)試，分析結(jié)果可以通過(guò)計(jì)算機(jī)直接連網(wǎng)輸出。

3.分析速度較快。

4.對(duì)于純金屬可采用無(wú)標(biāo)樣分析，精度能達(dá)分析要求。

5.不需要專業(yè)實(shí)驗(yàn)室與操作人員，不引入其它對(duì)環(huán)境有害的物質(zhì)。

手持式X-射線熒光光譜儀xSORT

手持式X-射線熒光光譜儀xSORT無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的樣品制備，對(duì)復(fù)雜基體的環(huán)境類樣本提供非常快速直接的元素測(cè)量和光譜化學(xué)成分分析，可以在很短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到非常低的檢測(cè)下限，因此在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可以快速提供實(shí)驗(yàn)室等級(jí)的測(cè)試結(jié)果。

適用于工程服務(wù)公司，政府機(jī)構(gòu)、大學(xué)、企業(yè)及測(cè)試實(shí)驗(yàn)室要從開發(fā)區(qū)、垃圾填埋場(chǎng)到軍事設(shè)施、水泥廠甚至野餐桌中取得的一切土壤、沉積物、廢棄物和廢油進(jìn)行環(huán)境監(jiān)控分析。